W wiadomości: 2004070407233200@grush.one.pl,
Radosław Sokół <rsokol@magsoft.com.pl> napisał(a):
[...]
> Testowanie fabryczne jest dwustopniowe, najpierw błyskawicznie
> sprawdza się sprawność każdego modułu na testerze sprzętowym,
> potem próbki z serii weryfikuje się w pecetach (ale nie wszystkie
> moduły).
Witam!
Chodzi o próbkę z serii, czyli czy cała partia nie jest uszkodzona i trzyma
normy.
[...]
> zuje ani pół błędu przez 48 godzin). Uszkodzenia pamięci są
> jednym z najczęstszych fabrycznych defektów elektroniki.
[...]
To by wyjaśniało dlaczego jestem zwolennikiem testowanej pamięci, najlepiej
jeszcze z ECC. Czytałem gdzieś, że w 1G (czy coś podobnego) pamięci
przekłamania spowodowane promieniowaniem kosmicznym mogą zdarzyć dwa razy w
roku.
P.S. O ile dobrze się orientuje ceny pamięci nawet ostatnio wzrosły, a
przynajmniej się wahały. Nie tylko spadały.
-- Pozdrawiam, Marek Janaszewski [ j_marek(at)gazeta.pl ]Received on Mon Jul 5 03:40:25 2004
To archiwum zostało wygenerowane przez hypermail 2.1.8 : Mon 05 Jul 2004 - 03:42:02 MET DST