Re: Do poczytania - o niezawodnosci dyskow

Autor: Michal Kawecki <kkwinto_at_o2.px>
Data: Wed 21 Feb 2007 - 10:21:31 MET
Message-ID: <703hre.aud.ln@kwinto.prv>
Content-Type: text/plain; format=flowed; charset="iso-8859-2"; reply-type=response

"mirekm" <mirekmm@gazeta.pl> wrote in message
news:ergt76$mhu$1@nemesis.news.tpi.pl...
> Dwie prace o dykach, w jezyku niepolskim rzecz jasna:
>
> http://www.usenix.org/events/fast07/tech/schroeder/schroeder_html/index.html
>
> Ciekawsze wnioski: Podawane przez producentów parametry niezawodności
> są "optymistyczne". Awaryjność dysków SCSI, FC nie różni się w
> znaczący sposób od dysków SATA.
>
> http://216.239.37.132/papers/disk_failures.pdf
>
> Między innymi interesujące są rozważania na temet wpływu temperatur,
> na żywotność dysków, wniosek, że w ponad połowie przypadków z kluczowe
> parametry SMART nie da się przewidzieć nadchodzącej awarii itp.

Ciekawe artykuły, dzięki. Mnie zainteresowała informacja, że są prace
potwierdzające spadek MTBF o 50% przy wzroście temperatury roboczej z 30
do 40 st. C dla dysków Seagate (chyba chodzi o
http://www.digit-life.com/articles/storagereliability/ ), tudzież że
stwierdzono związek pomiędzy ilością głowic (talerzy) a awaryjnością
dysków (co jest raczej oczywiste). No i najważniejsza - że po
zarejestrowaniu pierwszego błędu SMART prawdopodobieństwo padu dysku w
ciągu następnych 60 dni jest aż 39-krotnie większe, niż w przypadku
dysków zdrowych. Czyli - uciekać od dysków z błędami w SMART.

-- 
M.   [Windows - Shell/User MVP]
/odpowiadając na priv zmień px na pl/ 
Received on Wed Feb 21 10:30:09 2007

To archiwum zostało wygenerowane przez hypermail 2.1.8 : Wed 21 Feb 2007 - 10:51:25 MET